1. 纳米级光斑控制
采用西克第4代SIRIC芯片技术,检测分辨率达0.1mm(较传统提升3倍)
双透镜背景抑制系统,有效区分10cm-2.6m范围内的目标物与背景
2. 极端环境适应性
-40℃至+70℃宽温域工作(通过-25℃冷冻舱测试)
IP68防护+抗电磁干扰设计(10kV/m射频环境稳定运行)
3. 智能工业4.0接口
▸ IO-Link 1.3协议支持设备健康度实时监控
▸ 配备Class 2激光指示器,3秒快速对焦(误差<0.3mm)
▶ 汽车制造
白车身焊接定位(检测精度±0.2mm,较竞品提升67%)
▶ 食品包装
透明薄膜缺陷检测(抗环境光干扰能力达100,000lux)
▶ 智能物流
包裹体积测量(响应速度0.5ms,分拣效率提升40%)
指标 | WE45-P260 | 行业平均 |
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重复精度 | 0.1mm | 0.3mm |
信号延迟 | 0.5ms | 1.2ms |
防护等级 | IP68 | IP65 |